Tailoring of Domain Wall Devices for Sensing Applications

We perform magnetoresistance (MR) measurements to experimentally track magnetic domain wall pinning/depinning process in L-shaped Permalloy (Py) nanostructures with widths in the range 50-400 nm. We demonstrate that the field interval between the pinning/depinning events increases with the reduction...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:IEEE transactions on magnetics 2014-11, Vol.50 (11), p.1-4
Hauptverfasser: Corte-Leon, Hector, Krzysteczko, Patryk, Schumacher, Hans Werner, Manzin, Alessandra, Antonov, Vladimir, Kazakova, Olga
Format: Artikel
Sprache:eng
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