Small-angle scattering data analysis in GSAS-II

The General Structure Analysis System II (GSAS‐II) now contains modules for the analysis of small‐angle X‐ray scattering data. This includes processing of two‐dimensional images to create corrected one‐dimensional patterns, analysis via maximum entropy or total nonnegative least‐squares methods of t...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of applied crystallography 2014-10, Vol.47 (5), p.1784-1789
1. Verfasser:	Von Dreele, Robert B.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	computer programs Crystallography Data analysis Guinier image plate calibration maximum entropy Porod Scattering slit smearing small-angle X-ray analysis
Online-Zugang:	Volltext
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