The Source Pick-Up Effect of Multi-Finger GDpMOSTs on ESD/LU Immunities in a 3.3V 0.35[mu]m Process

This paper presents an evaluation of source N+ pick-up influence on ESD/LU immunities for the 0.35μm 3.3V low-voltage pMOSFET devices. It is found that when the stripe number of source N+ pick-up increased, the trigger voltage (Vt1) and holding voltage (Vh) values will be increased, too. Finally, th...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Applied Mechanics and Materials 2013-09, Vol.427-429, p.1154
Hauptverfasser:	Chen, Shen Li, Lee, Min Hua
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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