A Comparative Study on Contamination Deposited Characteristics of ±800kV DC Line Insulators

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	International journal of computer science issues 2013-01, Vol.10 (1), p.37
Hauptverfasser:	Lv, Fangcheng, Qin, Chunxu, Liu, Yunpeng, Guo, Wenyi, Li, Ruihai
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Computer science
Online-Zugang:	Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:	1694-0814 1694-0784