Laser-induced breakdown spectroscopy for photovoltaic silicon wafer analysis

ABSTRACT The principal subject matter of this work is the application of laser‐induced breakdown spectroscopy for the multi‐elemental analytical characterization of different qualities of solid silicon. The physical process upon which the technique is based is the temporally resolved observation of...

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Veröffentlicht in:Progress in photovoltaics 2012-06, Vol.20 (4), p.463-471
Hauptverfasser: Darwiche, S., Benmansour, M., Eliezer, N., Morvan, D.
Format: Artikel
Sprache:eng
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