Defining a minimum analytical mass in geological reference samples using [mu]XRF mapping capacity

Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2012 in Phoenix, Arizona, USA, July 29 - August 2, 2012. [PUBLICATION ABSTRACT]

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2012-07, Vol.18 (S2), p.940
Hauptverfasser:	Bedard, P, Neron, A, Barnes, S
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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