Correlative characterization of the local deformation response and gage volume microstructure of pure Ni micro-samples via in-situ SEM testing and 3D EBSD

Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2012 in Phoenix, Arizona, USA, July 29 – August 2, 2012.

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2012-07, Vol.18 (S2), p.720-721
Hauptverfasser:	Shade, P., Groeber, M., Uchic, M., Wheeler, R.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Instrumentation Symposium Measurement and Visualization of Mechanical Behavior at Micro and Nano-scales-01
Online-Zugang:	Volltext
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