Thermal instaiblity of the TiSi2/Si structure: impurity effects

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	OGAWA, S, YOSHIDA, T, KOUZAKI, T, OKUDA, S, TSUKAMOTO, K
Format:	Tagungsbericht
Sprache:	eng
Schlagworte:	Condensed matter: structure, mechanical and thermal properties Exact sciences and technology Physics Surfaces and interfaces thin films and whiskers (structure and nonelectronic properties)
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