$Investigation of Si1-xGex films and SimGen superlatticeds by x-ray diffraction$

Investigation of Si1-xGex films and SimGen superlatticeds by x-ray diffraction

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of applied physics 1992, Vol.72 (2), p.471-477
Hauptverfasser:	KOSCHINSKI, W, DETTMER, K, KESSLER, F. R
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Condensed matter: structure, mechanical and thermal properties Exact sciences and technology Low-dimensional structures (superlattices, quantum well structures, multilayers): structure, and nonelectronic properties Physics Surfaces and interfaces thin films and whiskers (structure and nonelectronic properties)
Online-Zugang:	Volltext
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