Photon induced noise in the SIS detector: Space terahertz technology

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	IEEE transactions on microwave theory and techniques 1994, Vol.42 (4), p.715-725
Hauptverfasser:	DUBASH, N. B, PANCE, G, WENGLER, M. J
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Applied sciences Electronics Exact sciences and technology Testing, measurement, noise and reliability
Online-Zugang:	Volltext
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