First direct observation of EL2-like defect levels in annealed LT-GaAs: Low temperature grow GaAs and related materials

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of electronic materials 1993, Vol.22 (12), p.1499-1502
Hauptverfasser: JÄGER, N. D, VERMA, A. K, DRESZER, P, NEWMAN, N, LILIENTAL-WEBER, Z, VAN SCHILFBGAARDE, M, WEBER, E. R
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0361-5235
1543-186X