Radiation effects in oxynitrides grown in N2O

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	IEEE transactions on nuclear science 1994-12, Vol.41 (6), p.1854-1863
Hauptverfasser:	SAKS, N. S, SIMONS, M, FLEETWOOD, D. M, YOUNT, J. T, LENAHAN, P. M, KLEIN, R. B
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Applied sciences Electronics Exact sciences and technology Testing, measurement, noise and reliability
Online-Zugang:	Volltext
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