Experimental and Simulated Cycling of ISFET Electric Fields for Drift Reset

We demonstrate the cycling of electric fields within an ion-sensitive field-effect transistor (ISFET) as a method to control drift. ISFETs had a repeatable drift pattern when cycling the vertical electric field by changing the voltage between the reference electrode and the substrate. Cycling the ho...

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Veröffentlicht in:IEEE electron device letters 2013-03, Vol.34 (3), p.456-458
Hauptverfasser: Welch, D., Shah, S., Ozev, S., Blain Christen, Jennifer
Format: Artikel
Sprache:eng
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