Experimental and Simulated Cycling of ISFET Electric Fields for Drift Reset
We demonstrate the cycling of electric fields within an ion-sensitive field-effect transistor (ISFET) as a method to control drift. ISFETs had a repeatable drift pattern when cycling the vertical electric field by changing the voltage between the reference electrode and the substrate. Cycling the ho...
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Veröffentlicht in: | IEEE electron device letters 2013-03, Vol.34 (3), p.456-458 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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