Influence of band structure and intrinsic carrier concentration on the THz surface emission from InN and InAs

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Semiconductor science and technology 2007-09, Vol.22 (9), p.1016-1020
Hauptverfasser: Polyakov, V M, Schwierz, F
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0268-1242
1361-6641
DOI:10.1088/0268-1242/22/9/007