Overerase phenomena: An insight into Flash memory reliability: Flash memory technology

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Proceedings of the IEEE 2003, Vol.91 (4), p.617-626
Hauptverfasser:	CHIMENTON, Andrea, PELLATI, Paolo, OLIVO, Piero
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Applied sciences Design. Technologies. Operation analysis. Testing Electronics Exact sciences and technology Integrated circuits Integrated circuits by function (including memories and processors) Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices
Online-Zugang:	Volltext
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