Patterning of Narrow Au Nanocluster Lines Using V2O5 Nanowire Masks and Ion-Beam Milling

A shadow mask technique employing V2O5 nanowires and ion-beam milling is used to define narrow lines of monolayer-encapsulated Au nanoclusters. When positioned between electrodes these lines are shown to be conducting and to have nonlinear I−V characteristics with nonzero threshold voltages consiste...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Nano letters 2003-02, Vol.3 (2), p.135-138
Hauptverfasser: Ancona, M. G, Kooi, S. E, Kruppa, W, Snow, A. W, Foos, E. E, Whitman, L. J, Park, D, Shirey, L
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!