X-ray emission spectra and interfacial solid-phase reactions in Hf/Si(001)Si systems
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Veröffentlicht in: | Thin solid films 1999-08, Vol.350 (N1-2) |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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Zusammenfassung: | |
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ISSN: | 0040-6090 1879-2731 |
DOI: | 10.1016/S0040-6090(99)00266-7 |