Gas cluster ion beam assisted NiPt germano-silicide formation on SiGe

We report the formation of very uniform and smooth Ni(Pt)Si on epitaxially grown SiGe using Si gas cluster ion beam treatment after metal-rich silicide formation. The gas cluster ion implantation process was optimized to infuse Si into the metal-rich silicide layer and lowered the NiSi nucleation te...

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Veröffentlicht in:Journal of applied physics 2016-04, Vol.119 (15)
Hauptverfasser: Ozcan, Ahmet S., Lavoie, Christian, Jordan-Sweet, Jean, Alptekin, Emre, Zhu, Frank, Leith, Allen, Pfeifer, Brian D., LaRose, J. D., Russell, N. M.
Format: Artikel
Sprache:eng
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