Gas cluster ion beam assisted NiPt germano-silicide formation on SiGe
We report the formation of very uniform and smooth Ni(Pt)Si on epitaxially grown SiGe using Si gas cluster ion beam treatment after metal-rich silicide formation. The gas cluster ion implantation process was optimized to infuse Si into the metal-rich silicide layer and lowered the NiSi nucleation te...
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Veröffentlicht in: | Journal of applied physics 2016-04, Vol.119 (15) |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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