On the tensoresistance of n-Ge and n-Si crystals with radiation-induced defects
A variation in the tensoresistance of n -Ge:Sb and n -Si:As crystals as a result of irradiation with γ-ray photons ( 60 Co source) at fixed temperatures under conditions of the application of uniaxial elastic stress (0 ≤ X ≤ 1.2 GPa) along the main crystallographic direction is studied. It is found...
Gespeichert in:
Veröffentlicht in: | Semiconductors (Woodbury, N.Y.) N.Y.), 2015-09, Vol.49 (9), p.1129-1133 |
---|---|
1. Verfasser: | |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Schreiben Sie den ersten Kommentar!