Nanoscale magnetic field mapping with a single spin scanning probe magnetometer

We demonstrate quantitative magnetic field mapping with nanoscale resolution, by applying a lock-in technique on the electron spin resonance frequency of a single nitrogen-vacancy defect placed at the apex of an atomic force microscope tip. In addition, we report an all-optical magnetic imaging tech...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Applied physics letters 2012-04, Vol.100 (15), p.153118-153118-4
Hauptverfasser: Rondin, L., Tetienne, J.-P., Spinicelli, P., Dal Savio, C., Karrai, K., Dantelle, G., Thiaville, A., Rohart, S., Roch, J.-F., Jacques, V.
Format: Artikel
Sprache:eng
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