Copper migration and surface oxidation of CuxBi2Se3 in ambient pressure environments

Abstract Chemical modifications such as intercalation can be used to modify surface properties or to further functionalize the surface states of topological insulators (TIs). Using ambient pressure x-ray photoelectron spectroscopy, we report copper migration in C u x B i 2 S e 3 , which occurs on a...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:JPhys materials 2022-10, Vol.5 (4)
Hauptverfasser: Gross, Adam L., Falling, Lorenz, Staab, Matthew C., Montero, Metzli I., Ullah, Rahim R., Nisson, David M., Klavins, Peter, Koski, Kristie J., Curro, Nicholas J., Taufour, Valentin, Nemsak, Slavomir, Vishik, Inna M.
Format: Artikel
Sprache:eng
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