Analysis of the dependence of critical electric field on semiconductor bandgap
Understanding of semiconductor breakdown under high electric fields is an important aspect of materials’ properties, particularly for the design of power devices. For decades, a power-law has been used to describe the dependence of material-specific critical electrical field ( E crit ) at which the...
Gespeichert in:
Veröffentlicht in: | Journal of materials research 2022-02, Vol.37 (4), p.849-865 |
---|---|
Hauptverfasser: | , , , , , , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Schreiben Sie den ersten Kommentar!