Predicting X‑ray Photoelectron Peak Shapes: the Effect of Electronic Structure
X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) is a widely used tool for quantitative analysis of surfaces, providing critical information about elemental composition and the chemical state(s) of each element. Quantitative analysis of XPS data requires fitting of curves corresponding to different chemical s...
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Veröffentlicht in: | Journal of physical chemistry. C 2021-05, Vol.125 (19), p.10685-10692 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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