Probing the Surface Structure of Semiconductor Nanoparticles by DNP SENS with Dielectric Support Materials
Surface characterization is crucial for understanding how the atomic-level structure affects the chemical and photophysical properties of semiconducting nanoparticles (NPs). Solid-state nuclear magnetic resonance spectroscopy (NMR) is potentially a powerful technique for the characterization of the...
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Veröffentlicht in: | Journal of the American Chemical Society 2019-10, Vol.141 (39), p.15532-15546 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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