Probing the Surface Structure of Semiconductor Nanoparticles by DNP SENS with Dielectric Support Materials

Surface characterization is crucial for understanding how the atomic-level structure affects the chemical and photophysical properties of semiconducting nanoparticles (NPs). Solid-state nuclear magnetic resonance spectroscopy (NMR) is potentially a powerful technique for the characterization of the...

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Veröffentlicht in:Journal of the American Chemical Society 2019-10, Vol.141 (39), p.15532-15546
Hauptverfasser: Hanrahan, Michael P, Chen, Yunhua, Blome-Fernández, Rafael, Stein, Jennifer L, Pach, Gregory F, Adamson, Marquix A. S, Neale, Nathan R, Cossairt, Brandi M, Vela, Javier, Rossini, Aaron J
Format: Artikel
Sprache:eng
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