Analyzing pattern retention for multilayer focused ion beam induced quantum dot structures

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of vacuum science and technology. B, Nanotechnology & microelectronics Nanotechnology & microelectronics, 2013-05, Vol.31 (3)
Hauptverfasser: Luengo-Kovac, Marta, Saucer, Timothy W., Martin, Andrew J., Millunchick, Joanna, Sih, Vanessa
Format: Artikel
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:2166-2746
2166-2754
DOI:10.1116/1.4804278