Analyzing pattern retention for multilayer focused ion beam induced quantum dot structures
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Veröffentlicht in: | Journal of vacuum science and technology. B, Nanotechnology & microelectronics Nanotechnology & microelectronics, 2013-05, Vol.31 (3) |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext |
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ISSN: | 2166-2746 2166-2754 |
DOI: | 10.1116/1.4804278 |