Probing Local Ionic Dynamics in Functional Oxides at the Nanoscale

A scanning probe microscopy technique for probing local ionic dynamics in electrochemically active materials based on the first-order reversal curve current–voltage (FORC-IV) method is presented. FORC-IV imaging mode is applied to a Ca-substituted bismuth ferrite (Ca-BFO) system to separate the elec...

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Veröffentlicht in:Nano letters 2013-08, Vol.13 (8), p.3455-3462
Hauptverfasser: Strelcov, Evgheni, Kim, Yunseok, Jesse, Stephen, Cao, Ye, Ivanov, Ilia N, Kravchenko, Ivan I, Wang, Chih-Hung, Teng, Yung-Chun, Chen, Long-Qing, Chu, Ying Hao, Kalinin, Sergei V
Format: Artikel
Sprache:eng
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