High sensitivity of Franz-Keldysh oscillations in photoreflectance spectra for probing morphology in AlxGa 1−xN/GaN heterostructures

We demonstrate that Franz-Keldysh oscillations (FKOs) observed by photoreflectance (PR) spectroscopy are highly sensitive to the surface morphology of AlxGa1−xN layers in AlxGa1−x N heterostructures. Three Al0.2Ga0.8N/GaN heterostructures with different surface-morphology profiles, which are confirm...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	European physical journal. Applied physics 2007-02, Vol.37 (2), p.119-122
Hauptverfasser:	Takeuchi, H., Yamamoto, Y., Kamo, Y., Kunii, T., Oku, T., Wakaiki, S., Nakayama, M.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	77.65.-j 78.40.Fy 78.67.Pt
Online-Zugang:	Volltext
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