Determination of local crystal quality characteristics and of the orientation of CdTe semiconductor films by nonlinear optical methods

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Quantum electronics (Woodbury, N.Y.) N.Y.), 1995-02, Vol.25 (2), p.183-186
Hauptverfasser:	Balanyuk, V V, Krasnov, V F, Musher, S L, Prots, V I, Ryabchenko, V E, Stoyanov, S A, Struts, S G, Stupak, M F, Syskin, V S
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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