Pump-probe STM light emission spectroscopy for detection of photo-induced semiconductor-metal phase transition of VO2

We attempted to observe pump-probe scanning tunneling microscopy (STM)-light emission (LE) from a VO2 thin film grown on a rutile TiO2(0 0 1) substrate, with an Ag tip fixed over a semiconducting domain. Laser pulses from a Ti:sapphire laser (wavelength 920 nm; pulse width less than 1.5 ps) irradiat...

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Veröffentlicht in:	Journal of physics. Condensed matter 2017-10, Vol.29 (40), p.405001-405001
Hauptverfasser:	Sakai, Joe, Katano, Satoshi, Kuwahara, Masashi, Uehara, Yoichi
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	light emission pulsed laser deposition scanning tunneling microscopy thin films time-resolved spectroscopy
Online-Zugang:	Volltext
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