A comprehensive analysis of electron emission from a-Si:H/Al2O3 at low energies

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Veröffentlicht in:	Journal of physics. D, Applied physics Applied physics, 2023-02, Vol.56 (6)
Hauptverfasser:	Löffler, Janina, Belhaj, Mohamed, Bundaleski, Nenad, Diaz Leon, Juan J, Thomet, Jonathan, Frey, Samira, Ballif, Christophe, Wyrsch, Nicolas
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	a-Si:H electron emission energy high secondary electron emissive layers microchannel secondary electron emission
Online-Zugang:	Volltext
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