SURE-Fuse WFF: A Multi-Resolution Windowed Fourier Analysis for Interferometric Phase Denoising

Interferometric phase (InPhase) images, acquired by phase imaging systems, often suffer from two major degradations: 1) phase wrapping, caused by the sinusoidal 2\pi -periodic sensing mechanism, and 2) noise, introduced by the acquisition process or the system. This work focuses on InPhase denoisin...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:IEEE access 2019, Vol.7, p.120708-120723
Hauptverfasser: Krishnan, Joshin P., Figueiredo, Mario A. T., Bioucas-Dias, Jose M.
Format: Artikel
Sprache:eng
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