Enhanced skin effect for partial-element equivalent-circuit (PEEC) models
In this paper, a skin-effect modeling approach is presented that is suitable for all frequency regimes of interest and therefore is most appropriate for transient interconnect analysis. Yet, the new formulation lends itself to a model that can be abstracted for use in conjunction with surface integr...
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Veröffentlicht in: | IEEE transactions on microwave theory and techniques 2000-09, Vol.48 (9), p.1435-1442 |
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Hauptverfasser: | , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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