Enhanced skin effect for partial-element equivalent-circuit (PEEC) models

In this paper, a skin-effect modeling approach is presented that is suitable for all frequency regimes of interest and therefore is most appropriate for transient interconnect analysis. Yet, the new formulation lends itself to a model that can be abstracted for use in conjunction with surface integr...

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Veröffentlicht in:IEEE transactions on microwave theory and techniques 2000-09, Vol.48 (9), p.1435-1442
Hauptverfasser: Coperich, K.M., Ruehli, A.E., Cangellaris, A.
Format: Artikel
Sprache:eng
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