Development of a Thermally Aware-Compact Model With an Optimized Heat Sink for FinFETs
In this letter, we develop a compact thermal model that can predict changes in the threshold voltage and drain current because of the junction temperature, Δ J , and its effect on a circuit performance by using circuit simulators. In addition, we propose a thermally aware layout methodology for FinF...
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Veröffentlicht in: | IEEE transactions on nanotechnology 2019, Vol.18, p.51-54 |
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Hauptverfasser: | , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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