New Results With Silicon Drift Detectors For X-ray Spectroscopy

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Jalas, P., Niemeld, A., Chen, W., Rehak, P., Castoldi, A., Longoni, A.
Format:	Tagungsbericht
Sprache:	eng
Schlagworte:	Capacitance Energy resolution FETs Leak detection Leakage current Silicon Spectroscopy Temperature X-ray detection X-ray detectors
Online-Zugang:	Volltext bestellen
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Beschreibung
Zusammenfassung:
DOI:	10.1109/NSSMIC.1993.701672