Raman And Far Infrared Diagnostics Of Semiconductor Superlattices

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Dumejow, T., Hamilton, A.A., Parker, T.J., Samson, B., Smith, S.R.P., Tilley, D.R., Foxon, C.T.B., Harris, J.J., Moore, K.J.
Format: Tagungsbericht
Sprache:eng
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