Terahertz detection in a multi-gate high electron mobility transistor
We observe the THz response of a multi-gate high electron mobility transistor detector structure. These devices are fabricated from single heterostructure GaAs/AlGaAs material and feature three gates: a `source gate' adjacent to source terminal, a `drain gate' adjacent to drain terminal, a...
Gespeichert in:
Hauptverfasser: | , , , , , , , |
---|---|
Format: | Tagungsbericht |
Sprache: | eng |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Schreiben Sie den ersten Kommentar!