Terahertz detection in a multi-gate high electron mobility transistor

We observe the THz response of a multi-gate high electron mobility transistor detector structure. These devices are fabricated from single heterostructure GaAs/AlGaAs material and feature three gates: a `source gate' adjacent to source terminal, a `drain gate' adjacent to drain terminal, a...

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Dyer, G.C., Aizin, G.R., Shaner, E.A., Wanke, M.C., Reno, J.L., Mikalopas, J., Crossno, J.D., Allen, S.J.
Format: Tagungsbericht
Sprache:eng
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