Easy Prediction of Degradation in Transistor Current Gain over Large Ranges of Operating Current

The neutron damage factor varies greatly with emitter current density. An easy formulation is given to predict this factor for any current using two intercept parameters and three almost constant slope parameters. The intercept parameters may be determined from measurements of DC current gain, hFE,...

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Veröffentlicht in:IEEE Trans. Nucl. Sci.; (United States) 1984-01, Vol.31 (6), p.1417-1422
Hauptverfasser: Ahlport, B. T., Anderson, S. L.
Format: Artikel
Sprache:eng
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