TA-A5 scaling and limits of monolithic polycrystalline silicon resistors

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	IEEE transactions on electron devices 1980-11, Vol.27 (11), p.2184-2184
Hauptverfasser:	Gerzberg, L., Lu, N.C.C., Meindl, J.D.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
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