Improved techniques for the measurement of phase error in waveguide based optical devices

Phase-error measurement using an incoherent light source and information in the resulting interferograms is an effective technique for characterizing waveguide-based optical devices. We propose a new analysis scheme that utilizes Hilbert transformation along with an increased data sampling rate of t...

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Veröffentlicht in:Journal of lightwave technology 2003-01, Vol.21 (1), p.198-205
Hauptverfasser: Wei Chen, Yung-Jui Chen, Ming Yan, McGinnis, B., Zhe Wu
Format: Artikel
Sprache:eng
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