Gate-Controlled LVTSCR for High-Voltage ESD Protections in Advanced CMOS Processes
In this article, a novel high robust and latch-up immune electrostatic discharge (ESD) protection device, called gate-controlled low-voltage-triggered silicon-controlled rectifier (GC-LVTSCR), is proposed for 5-V I/O protection applications in the advance 40-nm CMOS technology. By incorporating a su...
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Veröffentlicht in: | IEEE transactions on electron devices 2023-04, Vol.70 (4), p.1-8 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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