Gate-Controlled LVTSCR for High-Voltage ESD Protections in Advanced CMOS Processes

In this article, a novel high robust and latch-up immune electrostatic discharge (ESD) protection device, called gate-controlled low-voltage-triggered silicon-controlled rectifier (GC-LVTSCR), is proposed for 5-V I/O protection applications in the advance 40-nm CMOS technology. By incorporating a su...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:IEEE transactions on electron devices 2023-04, Vol.70 (4), p.1-8
Hauptverfasser: Chen, Ruibo, Liu, Hongxia, Yan, Cong, Du, Feibo, Han, Aoran, Zhang, Yuxin, Huang, Wei, Xiang, Qi, Gao, Tianzhi, Wei, Hao, Liu, Zhiwei
Format: Artikel
Sprache:eng
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