Probing Low-Frequency Charge Noise in Few-Electron CMOS Quantum Dots
Charge noise is one of the main sources of environmental decoherence for spin qubits in silicon, presenting a major obstacle in the path towards highly scalable and reproducible qubit fabrication. Here we demonstrate in-depth characterization of the charge noise environment experienced by a quantum...
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Veröffentlicht in: | Physical review applied 2023-04, Vol.19 (4), Article 044010 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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