Probing Low-Frequency Charge Noise in Few-Electron CMOS Quantum Dots

Charge noise is one of the main sources of environmental decoherence for spin qubits in silicon, presenting a major obstacle in the path towards highly scalable and reproducible qubit fabrication. Here we demonstrate in-depth characterization of the charge noise environment experienced by a quantum...

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Veröffentlicht in:Physical review applied 2023-04, Vol.19 (4), Article 044010
Hauptverfasser: Spence, Cameron, Cardoso Paz, Bruna, Michal, Vincent, Chanrion, Emmanuel, Niegemann, David J., Jadot, Baptiste, Mortemousque, Pierre-André, Klemt, Bernhard, Thiney, Vivien, Bertrand, Benoit, Hutin, Louis, Bäuerle, Christopher, Vinet, Maud, Niquet, Yann-Michel, Meunier, Tristan, Urdampilleta, Matias
Format: Artikel
Sprache:eng
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