Quantitative determination of In clustering in In-rich In x Ga 1−x N thin films
We investigated atomic ordering in In-rich In x Ga 1− x N epilayers in order to obtain an understanding of whether a deviation from a random distribution of In atoms in the group-III sublattice could be the origin of the strong carrier localization and defect-insensitive emission of these semiconduc...
Gespeichert in:
Veröffentlicht in: | Journal of physics. D, Applied physics Applied physics, 2014-10, Vol.47 (41), p.415301 |
---|---|
Hauptverfasser: | , , , , , , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Schreiben Sie den ersten Kommentar!