Efficient silicon nitride SiN x :H antireflective and passivation layers deposited by atmospheric pressure PECVD for silicon solar cells

This work demonstrates the efficient optical and passivation properties provided by hydrogenated silicon nitride (SiN x :H) layers deposited in a lab‐scale atmospheric pressure plasma enhanced chemical vapor deposition (AP‐PECVD) reactor. By applying modulated low‐frequency plasma (200 kHz), homogen...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Progress in photovoltaics 2019-11, Vol.27 (11), p.1007-1019
Hauptverfasser: Lelièvre, Jean‐François, Kafle, Bishal, Saint‐Cast, Pierre, Brunet, Paul, Magnan, Romain, Hernandez, Emmanuel, Pouliquen, Sylvain, Massines, Françoise
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!