Efficient silicon nitride SiN x :H antireflective and passivation layers deposited by atmospheric pressure PECVD for silicon solar cells
This work demonstrates the efficient optical and passivation properties provided by hydrogenated silicon nitride (SiN x :H) layers deposited in a lab‐scale atmospheric pressure plasma enhanced chemical vapor deposition (AP‐PECVD) reactor. By applying modulated low‐frequency plasma (200 kHz), homogen...
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Veröffentlicht in: | Progress in photovoltaics 2019-11, Vol.27 (11), p.1007-1019 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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