Atomistic Simulations of Surface Effects Under High Electric Fields

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2017-07, Vol.23 (S1), p.644-645
Hauptverfasser:	Parviainen, Stefan, Dagan, Michal, Katnagallu, Shyam, Gault, Baptiste, Moody, Michael, Vurpillot, Francois
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Analytical and Instrumentation Science Symposia Physics Reconstruction, Simulations, and Data Analysis in Atom Probe Tomography
Online-Zugang:	Volltext
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