"65 nm, 45 nm and 32 nm Aluminium and Copper Transmission Line Model at Millimeter Wave Frequencies"

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	IEEE transactions on microwave theory and techniques 2010-09, Vol.58 (9), p.2426-2433
Hauptverfasser:	Quémerais, T., Moquillon, L., Fournier, J.M., Benech, Ph
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Engineering Sciences Micro and nanotechnologies Microelectronics
Online-Zugang:	Volltext
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