Raman spectroscopy and polarization: Selected case studies
We show, through several selected case studies, the potential benefits that can be obtained by controlling the polarization states of the exciting and scattered radiations in a Raman scattering experiment. When coupled with polarization control, Raman spectroscopy is thus capable of providing extra...
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Veröffentlicht in: | Comptes rendus. Physique 2012-10, Vol.13 (8), p.837-852 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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creator | Ossikovski, Razvigor Picardi, Gennaro Ndong, Gérald Chaigneau, Marc |
description | We show, through several selected case studies, the potential benefits that can be obtained by controlling the polarization states of the exciting and scattered radiations in a Raman scattering experiment. When coupled with polarization control, Raman spectroscopy is thus capable of providing extra information on the structural properties of the materials under investigation. The experimental examples presented in this work are taken from the area of both conventional, i.e., far-field, as well as from near-field Raman spectroscopy. They cover topics such as the stress tensor measurement in strained semiconductor structures, the vibration mode assignment in pentacene thin films and the Raman scattering tensor determination from near-field measurements on azobenzene monolayers. The basic theory necessary for modelling the far- and near-field polarized Raman responses is also given and the model efficiency is illustrated on the experimental data.
A travers quelques cas dʼétude choisis, nous mettons en évidence les bénéfices potentiels qui peuvent être tirés en contrôlant les états de polarisation des radiations excitatrice et diffusée dans une expérience de diffusion Raman. Couplée à un contrôle de la polarisation, la spectroscopie Raman est ainsi capable de fournir des informations supplémentaires sur les propriétés structurelles des matériaux étudiés. Les exemples dʼexpériences présentés dans ce travail proviennent à la fois du domaine de la spectroscopie Raman conventionnelle (c.-à-d., en champ lointain) et de celui de la spectroscopie en champ proche. Ils couvrent des sujets tels que la mesure du tenseur des efforts dans une structure semiconductrice contrainte, lʼattribution des modes de vibration dans des couches minces de pentacène et la détermination du tenseur de diffusion Raman à partir de mesures en champ proche sur des monocouches dʼazobenzène. La théorie de base nécessaire à la modélisation des réponses Raman polarisé en champs proche et lointain est également présentée et lʼefficacité des modèles est illustrée sur les données expérimentales. |
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A travers quelques cas dʼétude choisis, nous mettons en évidence les bénéfices potentiels qui peuvent être tirés en contrôlant les états de polarisation des radiations excitatrice et diffusée dans une expérience de diffusion Raman. Couplée à un contrôle de la polarisation, la spectroscopie Raman est ainsi capable de fournir des informations supplémentaires sur les propriétés structurelles des matériaux étudiés. Les exemples dʼexpériences présentés dans ce travail proviennent à la fois du domaine de la spectroscopie Raman conventionnelle (c.-à-d., en champ lointain) et de celui de la spectroscopie en champ proche. Ils couvrent des sujets tels que la mesure du tenseur des efforts dans une structure semiconductrice contrainte, lʼattribution des modes de vibration dans des couches minces de pentacène et la détermination du tenseur de diffusion Raman à partir de mesures en champ proche sur des monocouches dʼazobenzène. La théorie de base nécessaire à la modélisation des réponses Raman polarisé en champs proche et lointain est également présentée et lʼefficacité des modèles est illustrée sur les données expérimentales.</description><identifier>ISSN: 1631-0705</identifier><identifier>ISSN: 1878-1535</identifier><identifier>EISSN: 1878-1535</identifier><identifier>DOI: 10.1016/j.crhy.2012.06.001</identifier><language>eng</language><publisher>Elsevier SAS</publisher><subject>Champ proche ; Mathematical analysis ; Mesure de contraintes ; Optics ; Physics ; Polarisation ; Polarization ; Raman scattering ; Raman spectroscopy ; Semiconductors ; Spectroscopie Raman ; Stress measurement ; TERS ; Thin films ; Vibration mode</subject><ispartof>Comptes rendus. Physique, 2012-10, Vol.13 (8), p.837-852</ispartof><rights>2012 Académie des sciences</rights><rights>Distributed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License</rights><lds50>peer_reviewed</lds50><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed><citedby>FETCH-LOGICAL-c400t-ab147fd16c5045c868405346ab74d52f261058f1ecd556273e72a74331dcdbcb3</citedby><cites>FETCH-LOGICAL-c400t-ab147fd16c5045c868405346ab74d52f261058f1ecd556273e72a74331dcdbcb3</cites></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S1631070512001016$$EHTML$$P50$$Gelsevier$$H</linktohtml><link.rule.ids>230,314,776,780,881,3537,27901,27902,65534</link.rule.ids><backlink>$$Uhttps://polytechnique.hal.science/hal-00838086$$DView record in HAL$$Hfree_for_read</backlink></links><search><creatorcontrib>Ossikovski, Razvigor</creatorcontrib><creatorcontrib>Picardi, Gennaro</creatorcontrib><creatorcontrib>Ndong, Gérald</creatorcontrib><creatorcontrib>Chaigneau, Marc</creatorcontrib><title>Raman spectroscopy and polarization: Selected case studies</title><title>Comptes rendus. Physique</title><description>We show, through several selected case studies, the potential benefits that can be obtained by controlling the polarization states of the exciting and scattered radiations in a Raman scattering experiment. When coupled with polarization control, Raman spectroscopy is thus capable of providing extra information on the structural properties of the materials under investigation. The experimental examples presented in this work are taken from the area of both conventional, i.e., far-field, as well as from near-field Raman spectroscopy. They cover topics such as the stress tensor measurement in strained semiconductor structures, the vibration mode assignment in pentacene thin films and the Raman scattering tensor determination from near-field measurements on azobenzene monolayers. The basic theory necessary for modelling the far- and near-field polarized Raman responses is also given and the model efficiency is illustrated on the experimental data.
A travers quelques cas dʼétude choisis, nous mettons en évidence les bénéfices potentiels qui peuvent être tirés en contrôlant les états de polarisation des radiations excitatrice et diffusée dans une expérience de diffusion Raman. Couplée à un contrôle de la polarisation, la spectroscopie Raman est ainsi capable de fournir des informations supplémentaires sur les propriétés structurelles des matériaux étudiés. Les exemples dʼexpériences présentés dans ce travail proviennent à la fois du domaine de la spectroscopie Raman conventionnelle (c.-à-d., en champ lointain) et de celui de la spectroscopie en champ proche. Ils couvrent des sujets tels que la mesure du tenseur des efforts dans une structure semiconductrice contrainte, lʼattribution des modes de vibration dans des couches minces de pentacène et la détermination du tenseur de diffusion Raman à partir de mesures en champ proche sur des monocouches dʼazobenzène. 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A travers quelques cas dʼétude choisis, nous mettons en évidence les bénéfices potentiels qui peuvent être tirés en contrôlant les états de polarisation des radiations excitatrice et diffusée dans une expérience de diffusion Raman. Couplée à un contrôle de la polarisation, la spectroscopie Raman est ainsi capable de fournir des informations supplémentaires sur les propriétés structurelles des matériaux étudiés. Les exemples dʼexpériences présentés dans ce travail proviennent à la fois du domaine de la spectroscopie Raman conventionnelle (c.-à-d., en champ lointain) et de celui de la spectroscopie en champ proche. Ils couvrent des sujets tels que la mesure du tenseur des efforts dans une structure semiconductrice contrainte, lʼattribution des modes de vibration dans des couches minces de pentacène et la détermination du tenseur de diffusion Raman à partir de mesures en champ proche sur des monocouches dʼazobenzène. La théorie de base nécessaire à la modélisation des réponses Raman polarisé en champs proche et lointain est également présentée et lʼefficacité des modèles est illustrée sur les données expérimentales.</abstract><pub>Elsevier SAS</pub><doi>10.1016/j.crhy.2012.06.001</doi><tpages>16</tpages></addata></record> |
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identifier | ISSN: 1631-0705 |
ispartof | Comptes rendus. Physique, 2012-10, Vol.13 (8), p.837-852 |
issn | 1631-0705 1878-1535 1878-1535 |
language | eng |
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source | Elsevier ScienceDirect Journals Complete; Elektronische Zeitschriftenbibliothek - Frei zugängliche E-Journals; Alma/SFX Local Collection |
subjects | Champ proche Mathematical analysis Mesure de contraintes Optics Physics Polarisation Polarization Raman scattering Raman spectroscopy Semiconductors Spectroscopie Raman Stress measurement TERS Thin films Vibration mode |
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