RF CMOS body-effect circuits
After a theoretical and analytical study of the body effect in MOS transistors, this paper offers two useful models of this parasitic phenomenon. Thanks to these models, a design methodology, which takes advantage of the bulk terminal, allows to turn this well-known body-effect drawback into an anal...
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Veröffentlicht in: | Microelectronics 2006-11, Vol.37 (11), p.1251-1260 |
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Hauptverfasser: | , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext |
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