Determination of majority carrier capture rates via deep level transient spectroscopy

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	Lauwaert, Johan, Khelifi, Samira, Vrielinck, Henk
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Capture rate DLTS GERMANIUM Physics and Astronomy SEMICONDUCTORS TRANSITION-METAL IMPURITIES TRAPS
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