Formation of the Crystalline Structure of a Silicon Surface in Active Media During Polishing

When surfactants are present in polishing compositions severe damage is done to the initial crystal structure of a very thin (tenths and hundredths of a micron thick) surface layer of the material (silicon) being processed and the deformation-strength properties of the material change as a result of...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Glass and ceramics 2014-09, Vol.71 (5-6), p.169-171
Hauptverfasser: Kanaev, A. A., Gorodetskii, A. E.
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!