TESTABLE IC HAVING ANALOG AND DIGITAL CIRCUITS

The invention relates to an integrated circuit with at least an analog and a digital circuit that ate interconnected by a signal path. In order to enable separate testing of the circuits, for example in accordance with the macro test approach, in the signal path a special seam circuit (200) is inser...

Ausführliche Beschreibung

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Hauptverfasser: DE NIE, ROBERT, H, PRONK, VINCENT, JANSEN, ROLAND, P, DE JONG, PETRUS, A., L, PORTENERS, GASTON, M., I, PALM, PETRUS, A., J., M, VAN DER HEIDEN, JOHANNES, T
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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creator DE NIE, ROBERT, H
PRONK, VINCENT
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PALM, PETRUS, A., J., M
VAN DER HEIDEN, JOHANNES, T
description The invention relates to an integrated circuit with at least an analog and a digital circuit that ate interconnected by a signal path. In order to enable separate testing of the circuits, for example in accordance with the macro test approach, in the signal path a special seam circuit (200) is inserted. The seam circuit (200) is essentially a feedback loop (214) having a scannable flip-flop (210) and a multiplexer (220). The flip-flop (210) feeds a first input of the multiplexer (220), whereas a second input of the multiplexer (220) establishes an input (230) of the seam circuit (200). An output of the feedback loop (214) establishes an output of the seam circuit (200). The state of the multiplexer (220) defines the state of the seam circuit (200), in a first state of the multiplexer (220) the seam circuit (200) being transparent for signals being transferred along the signal path from one circuit to another, and in a second state of the multiplexer (220) the seam circuit (200) outputting a signal that was loaded in the feedback loop (214) beforehand. L'invention porte sur un CI comportant au moins un circuit analogique et un circuit numérique reliés par un canal de transmission de signaux. Pour pouvoir tester les circuits séparément, par exemple lors de macro tests, un circuit d'isolement (200) spécial à été inséré dans le canal de transmission de signaux. Le circuit d'isolement comporte essentiellement une boucle de rétroaction (214) muni d'une bascule balayable (210) et un multiplexeur (220). La bascule (210) alimente directement une première entrée du multiplexeur (220) dont une deuxième entrée sert d'entrée (230) au circuit d'isolement (200). Une sortie de la boucle de rétroaction (214) sert de sortie au circuit d'isolement (200). L'état du multiplexeur (220) détermine celui du circuit d'isolement (200). Lorsque le multiplexeur (220) est dans un premier état, le circuit d'isolement (200) est transparent pour les signaux transmis dans le canal d'un circuit à l'autre; lorsqu'il est dans un deuxième état, le circuit d'isolement (200) émet un signal ayant été chargé antérieurement dans la boucle (214) de rétroaction.
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In order to enable separate testing of the circuits, for example in accordance with the macro test approach, in the signal path a special seam circuit (200) is inserted. The seam circuit (200) is essentially a feedback loop (214) having a scannable flip-flop (210) and a multiplexer (220). The flip-flop (210) feeds a first input of the multiplexer (220), whereas a second input of the multiplexer (220) establishes an input (230) of the seam circuit (200). An output of the feedback loop (214) establishes an output of the seam circuit (200). The state of the multiplexer (220) defines the state of the seam circuit (200), in a first state of the multiplexer (220) the seam circuit (200) being transparent for signals being transferred along the signal path from one circuit to another, and in a second state of the multiplexer (220) the seam circuit (200) outputting a signal that was loaded in the feedback loop (214) beforehand. L'invention porte sur un CI comportant au moins un circuit analogique et un circuit numérique reliés par un canal de transmission de signaux. Pour pouvoir tester les circuits séparément, par exemple lors de macro tests, un circuit d'isolement (200) spécial à été inséré dans le canal de transmission de signaux. Le circuit d'isolement comporte essentiellement une boucle de rétroaction (214) muni d'une bascule balayable (210) et un multiplexeur (220). La bascule (210) alimente directement une première entrée du multiplexeur (220) dont une deuxième entrée sert d'entrée (230) au circuit d'isolement (200). Une sortie de la boucle de rétroaction (214) sert de sortie au circuit d'isolement (200). L'état du multiplexeur (220) détermine celui du circuit d'isolement (200). Lorsque le multiplexeur (220) est dans un premier état, le circuit d'isolement (200) est transparent pour les signaux transmis dans le canal d'un circuit à l'autre; lorsqu'il est dans un deuxième état, le circuit d'isolement (200) émet un signal ayant été chargé antérieurement dans la boucle (214) de rétroaction.</description><edition>6</edition><language>eng ; fre</language><subject>BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY ; CODE CONVERSION IN GENERAL ; CODING ; DECODING ; ELECTRICITY ; MEASURING ; MEASURING ELECTRIC VARIABLES ; MEASURING MAGNETIC VARIABLES ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>1999</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=19991104&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=9956396A2$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25564,76547</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=19991104&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=9956396A2$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>DE NIE, ROBERT, H</creatorcontrib><creatorcontrib>PRONK, VINCENT</creatorcontrib><creatorcontrib>JANSEN, ROLAND, P</creatorcontrib><creatorcontrib>DE JONG, PETRUS, A., L</creatorcontrib><creatorcontrib>PORTENERS, GASTON, M., I</creatorcontrib><creatorcontrib>PALM, PETRUS, A., J., M</creatorcontrib><creatorcontrib>VAN DER HEIDEN, JOHANNES, T</creatorcontrib><title>TESTABLE IC HAVING ANALOG AND DIGITAL CIRCUITS</title><description>The invention relates to an integrated circuit with at least an analog and a digital circuit that ate interconnected by a signal path. 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